Fachbereich Ingenieurwissenschaften und Kommunikation
Rasterelektronenmikroskopie (REM)
Mit unserem modernen Rasterelektronenmikroskop JEOL JSM-IT200 können wir Objekte bis auf maximal 3 Nanometer auflösen. In Ergänzung dazu dient energiedispersive Röntgenstrahlung (EDX Detektor) zur Analyse der Verteilung der chemischen Elemente.
Bei der Rasterelektronenmikroskopie werden Objekte mit einer großen Schärfentiefe dargestellt, wie beispielsweise diese Bruchfläche einer im Zugversuch bei 600°C gerissenen Probe. Zur Bilderzeugung rastert ein Elektronenstrahl die Probe ab. Durch Wechselwirkungen des Elektronenstrahls mit den Elektronen im Werkstoff der untersuchten Probe entsteht das Bild. Dafür werden entweder die Sekundär- oder die Rückstreuelektronen des Werkstoffs verwendet, welche die jeweiligen Detektoren analysieren.